掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀

產品型號： VISCO™（SMPS-3938）

所屬分類：粉塵檢測儀/粉塵儀

產品時間：2023-10-28

簡要描述：掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀
TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一系統(tǒng)也經常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標準與技術研究所（ NIST ）使用一個 TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標準尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個精確地粒徑檢測技術，沒有假設顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨立的顆粒

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掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀

TSI  的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一系統(tǒng)也經常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標準與技術研究所（  NIST ）使用一個 TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm  的標準尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個精確地粒徑檢測技術，沒有假設顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨立的顆?；蛄黧w的折射率，并具有高度的絕對尺寸精度和測量重復性。  TSI 模型 3938  是粒徑譜儀的第三代；可信的研究人員超過 30 年。 

特點和優(yōu)點   

高分辨率數(shù)據：多達 167  個通道 

廣泛的尺寸范圍：從 2.5 nm  到 1000 nm   

 ISO 15900:2009  兼容 

快速測量：＜ 10  秒掃描 

寬的濃度范圍內， 10⁷  particles/cm³ 

最大的靈活性組件的設計 

無需電腦的操作， 觸摸屏控制 

易于安裝與不安裝工具和自動發(fā)現(xiàn)部件 

離散粒子測量：適用于多模樣本 

獨立的顆粒和流體的光學性質 

寬范圍的系統(tǒng)的選擇：水或丁醇計數(shù)器供選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇 

應用   

納米技術研究和材料的合成 

大氣研究和環(huán)境監(jiān)測 

燃燒和發(fā)動機排氣的研究 

室內空氣質量的測量 

核 /  冷凝的研究 

吸入毒理學研究 

內容包括   

靜電分類器與您選擇的 DMA  柱 

可兼容六種 CPC   

氣溶膠儀器 ®  軟件經理 

數(shù)據采集計算機必須單獨購買。